Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / 
Dale E. Newbury ... [et al.]. 
 - xii, 454 p. :  il. ;  24 cm. 
<br/><br/>Incluye referencia bibliográfica: p. 435-448 e índice 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0306421402 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>MICROSCOPIOS DE RAYOS X.<br/>MICROSCOPIOS ELECTRONICOS--BARRIDO.
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>502.825  / A3 1986