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1.
Thermal and Power Management of Integrated Circuits [recurso electrónico] / by Arman Vassighi, Manoj Sachdev. por Series Series on Integrated Circuits and Systems
Tipo de material: Texto Texto; Formato: electrónico disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2006 En: Springer eBooks
Recursos en línea:
Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: CICY (1)Colección, signatura topográfica: Libro electrónico 621.3815.

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2.
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits [recurso electrónico] : 2nd Edition / edited by Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez. por Series Frontiers in Electronic Testing ; 34
Tipo de material: Texto Texto; Formato: electrónico disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2007 En: Springer eBooks
Recursos en línea:
Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: CICY (1)Colección, signatura topográfica: Libro electrónico 621.3815.

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