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1.
Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis / edited by Joseph I. Goldstein and Harvey Yakowitz ; foreward by T.E. Evenhart por
Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción
Editor: New York : Plenum Press, 1975
Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: CICY (1)Colección, signatura topográfica: Colección general 502.825 G64p.

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2.
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.] por
Edición: 3 ed.
Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado;
Editor: New York, NY : Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2003
Recursos en línea:
Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: CICY (3)Colección, signatura topográfica: Colección general 502.825 S2 2003, ...

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